IC测试基本原理与ATE测试向量生成
数字IC测试 般有直流测试、来往测试和功能测试。 . 功能测试功能测试用于验证IC是否能完成设计所预期 工作或功能。功能测试是数字电路测试 根本,它模拟IC 实际工作状态,输入 系列有序或随机组合 测试图形,以电路规定 速率作用于被测器件,再在电路输出端检测输出信号是否与预期图形资料统计相符,以此判别电路功能是否正常。其关注 重点是图形产生 速率、边沿定时控制、输入/输出控制及屏蔽选购等。
. 直流参数测试直流测试是基于欧姆定律 ,用来确定器件参数 稳态测试技术。它是以电压或电流 形式验证电气参数。直流参数测试包括，接触测试、漏电流测试、转换电平测试、输出电平测试、电源消耗测试等。直流测试常用 测试技术有加压测流（FVMI）和加流测压（FIMV）,测试时部分考虑测试准确度和测试效率。通过直流测试可以判明电路 质量。如通过接触测试判别IC引脚 开路/短路情况、通过漏电测试可以从某方面反映电路 工艺质量、通过转换电平测试验证电路 驱动能力和抗噪声能力。
IC测试
功能测试分静态功能测试和动态功能测试。静态功能测试 般是按真值表 技术,发现固定型（Stuckat）故障。动态功能测试则以接近电路工作频率 速度进行测试,其目 是在接近或高于器件实际工作频率 情况下,验证器件 功能和性能。功能测试 般在ATE（AutomaticTestEquipment）上进行,ATE测试可以根据器件在设计阶段 模拟仿真波形,提供具有复杂时序 测试激励,并对器件 输出进行实时 采样、比较和判断。 . 来往参数测试来往（AC）参数测试是以时间为企业验证与时间相关 参数,实际上是对电路工作时 时间关系进行测量,测量诸如工作频率、输入信号输出信号随时间 变化关系等。常见 测量参数有上升和下降时间、传输延迟、建立和保持时间以及存储时间等。来往参数新关注 是新大测试速率和重复性能,然后为准确度。
根据器件类型,IC测试可以分为数字电路测试、模拟电路测试和混合电路测试。数字电路测试是IC测试 基础,除少数纯模拟IC如运算放大器、电压比较器、模拟开关等之外,现代电子系统中使用 大部分IC都包含有数字信号。
直流测试是IC测试 基础,是检测电路性能和可靠性 基本判别手段。
系统控制总线提供测试系统与计算机接口卡 连接。图形控制器用来控制测试图形 顺序流向,是数字测试系统 CPU.它可以提供DUT所需电源、图形、周期和时序、驱动电平等信息。
. ATE测试平台ATE（AutomaticTestEquipment）是自动测试设备,它是 个集成电路测试系统,用来进行IC测试。 般包括计算机和软件系统、系统总线控制系统、图形存储器、图形控制器、定时发生器、精密测量单元（PMU）、可编程电源和测试台等。
. IC测试原理IC测试是指依据被测器件（DUT）特点和功能,给DUT提供测试激励（X）,通过测量DUT输出响应（Y）与期望输出做比较,从而判断DUT是否符合格。图 所示为IC测试 基本原理模型。
. ATE测试向量 生成
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__依此,可以建立 种向量生成技术。利用EDA工具建立器件模型,通过建立 个Testbench仿真验证平台,对其提供测试激励,进行仿真,验证仿真结果,桥检车租赁快讯网进行报道,将输入激励和输出响应存储,按照ATE向量格式,桥检车租赁快讯网网站获悉,生成ATE向量文件。其原理如图 所示。
__在IC设计制造产业中,设计、验证和仿真是不可分离 。其ATE测试向量生成 种技术是,从基于EDA工具 仿真向量（包含输入信号和期望 输出）,经过优化和转换,形成ATE格式 测试向量。
_对简单 集成电路,如门电路,其ATE测试向量 般可以按照ATE向量格式手工完成。而对于 些集成度高,功能复杂 IC,其向量资料统计庞大, 般不可能依据其逻辑关系直接写出所需测试向量,因此,有必要探寻 种方便可行 技术,桥检车租赁快讯网新闻报道,完成ATE向量 生成。
图 ATE向量生成示意图
图 IC测试基本原理模型
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